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顆粒物相關校準的數(shù)據(jù)要求及漂移檢查的標準值的要求詳細解說
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顆粒物相關校準的數(shù)據(jù)要求:

參比方法與CEMS同步進行,CEMS每分鐘記錄一次累計平均值,取與參比方法同時區(qū)間測量值的平均值與參比方法測定值組成一個數(shù)據(jù)對,必須獲得至少15個有效的測試數(shù)據(jù)對。

進行相關校準測試的數(shù)據(jù)對大于15個時,可以舍棄部分測試數(shù)據(jù)對

可以舍棄5個數(shù)據(jù)對而不需要任何解釋

舍棄數(shù)據(jù)對超過5個時,則必須解釋舍棄的原因

必須報告所有數(shù)據(jù),包括舍棄的數(shù)據(jù)對

顆粒物漂移檢查的標準值的要求:

零點檢查值不大于顆粒物CEMS響應范圍的20%,必須從山東新澤獲得零點檢查值的相應文檔資料。

跨度檢查值處于顆粒物CEMS響應范圍的50%~100%。對于產生4~20mA 信號輸出的顆粒物CEMS,跨度檢查值必須能產生12~20mA的響應。必須從山東新澤獲得跨度檢查值的相應文檔。
顆粒物相關校準的數(shù)據(jù)要求及漂移檢查的標準值的要求詳細解說
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